X荧光测硫仪应用于样品涂镀层厚度及成分分析

　X荧光测硫仪是用于石油、煤、建材、冶金、采矿等工业的定量分析仪器，主要用于测量石油及其制品、煤、水泥、碳黑等材料中的全硫（S）的含量。由于它采用物理分析方法，具有分析速度快、无需复杂的样品预处理、精度高、人为误差小、操作工劳动强度低等特点，故已在国际上广泛应用并基本取代化学分析方法。

　　X荧光测硫仪采用小型X光管做激发源，不含同位素放射源；采用薄窗充气正比计数管和特殊的光路系统，具有一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、大屏幕中文显示、冷阴极背光液晶、人机对话方式操作、数据储存能力大、软件功能等优点。

　　仪器工作时，样品被高温燃烧后，产生矿化效应，即硫元素被氧化生成SO2分子，通过UV荧光器，当激发态的SO2分子返回基态时，会发射UV光，可被光电子倍增检测器捕捉，可测量其含量。

　　X射线荧光法，一直是元素分析的重要方法，同时也适用于样品涂镀层厚度及成分分析，比如：

　　1、新能源／锂电：电池薄膜吸收层（如CIS，CIGS，CdTe）的成份分析，通过镀层厚度分析优化导电性能；

　　2、贵金属、珠宝首饰：黄金分析，贵金属合金分析，珠宝镀层分析，铂金上的铑镀层分析；

　　3、防腐涂层：涂层厚度及组分分析；

　　4、装饰材料：装饰涂层分析；

　　5、微电子、半导体：贴片电子元器件、太阳能电池、焊点、高精度感应芯片、柔性线路板、磁性介质的成分检测和RoHS指令合规检查；

　　6、钢铁、五金电镀：钢材镀锌／铬、铝材镀锆／钛、哈式合金镀层厚度测定；

　　7、电子电器：PCB印刷电路板，金手指及连接器上Au／Ni／Cu、Au／Pd／Ni／Cu厚度分析、可焊性能分析。
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