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在工作中经常会遇到IGBT出现故障的问题，想要分析IGBT故障的原因却不知道该怎么做。有时候还得判断外观完好的IGBT模块是否出现异常，该用什么方法去测试呢？ 一般情况下，可以选择使用数字万用表，来快速判断IGBT的好坏。使用万用表的二极管档来测试FWD芯片是否正常；用电阻档判断CE、GE、GC有没有发生短路；用电容档来测试门极正常正常与否。不过这些方法也只能作为初步判别手段，并不具有通用性。想要更加准确地判断IGBT出现故障的原因，还需要使用到专门的测试设备。 IGBT全动态参数测试设备，是深圳威宇佳智能控制有限公司开发制造的一款专业测试设备，可以测试IGBT、SiC等开通、关断、短路、栅极电荷以及二极管反向恢复各项动态参数。同时还能够测试单管、半桥、四单元、六单元、PIM等绝大多数封装的IGBT模块及DBC。 
这台测试设备是半自动化的，可以自动进出料，具有自动短路测试、Qg测试功能。电压电流规格最大2000V/2000A，短路电流最高5000A，可以按照用户需求定制更高电压电流规格。它的测试夹具采用压接方式，连接电感小，即插即用，更换夹具便捷，可兼容多种封装的模块及DBC。另外，这台设备采用了软硬件结合的过流保护机制，保护速度快（<3us），保护电流值可预设。 深圳威宇佳是一家以IGBT、MOSFET、SiC等为主要功率半导体的测试设备开发制造企业，该公司开发的IGBT动态测试设备（1500V/2000A)为国内首创，打破国外垄断，并已在国内多家大型IGBT功率半导体模块厂家批量应用。该公司成为了国内首家电动汽车用IGBT动态测试设备制造商，并通过ISO9001质量体系认证，获得多项专利和软件著作权。 公司开发制造的产品包括IGBT动态参数测试设备、PIM & 单管IGBT专用动态设备、IGBT静态参数测试设备、功率半导体测试平台、高压安全试验箱、可调空心电感器、动静态参数全自动测试设备等，在软件和硬件平台上的持续开发，为满足更多新的功率半导体检测及应用技术要求提供了可能性。
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